[发明专利]红外线传感器芯片、红外线检测器以及其运行方法和测试方法有效
申请号: | 201280000480.0 | 申请日: | 2012-03-05 |
公开(公告)号: | CN103026193B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 金熙渊;金京珉;金炳日;庆箕明;朴宰弘;李贵鲁;金京泰 | 申请(专利权)人: | 韩国科学技术院 |
主分类号: | G01J5/02 | 分类号: | G01J5/02;G01J5/20;H01L31/101 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司11111 | 代理人: | 杨颖,张一军 |
地址: | 韩国大田广域*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种红外线传感器芯片、红外线检测器以及其运行方法和测试方法。根据本发明的实施例,红外线传感器芯片包括CMOS电路基板,其由有源矩阵、行线选择部和输出多路转换器构成;辐射热测量计,其层压于所述CMOS电路基板上,且由有源单元和参比单元构成,其中,为了在晶片或芯片状态下对所述辐射热测量计进行参数化测试,所述行线选择部选择所述辐射热测量计中作为施加电压的对象的单元,所述输出多路转换器部输出根据所述电压施加的电流特性。 | ||
搜索关键词: | 红外线 传感器 芯片 检测器 及其 运行 方法 测试 | ||
【主权项】:
一种红外线传感器芯片,包括:CMOS电路基板,其由有源矩阵、行线选择部和输出多路转换器部构成;辐射热测量计,其层压于所述CMOS电路基板上,且由有源单元和参比单元构成;其特征在于,其中,在为了在晶片或芯片状态下对所述辐射热测量计进行参数化测试的测试模式中,随着上述电路基板外部的控制信号,所述行线选择部选择所述辐射热测量计中作为施加电压的对象的一个单元,所述输出多路转换器部输出根据所述电压施加的上述选择的单元上流动的电流值。
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