[实用新型]一种测试治具有效
| 申请号： | 201220743210.6 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN203116760U | 公开（公告）日： | 2013-08-07 |
| 发明（设计）人： | 孙俊 | 申请（专利权）人： | 上海裕晶半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201112 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试治具，属于治具技术领域。该测试治具，包括测试平台和底座，其中，所述底座上设有多个螺纹孔，在所述螺纹孔中安装有可调节的螺纹紧固件。本实用新型通过在底座中增设螺纹孔，并安装可调节的螺纹紧固件，通过调节螺纹紧固件来校准测试治具，不仅更加简洁方便，而且优化了产品质量，提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
【主权项】：
一种测试治具，包括测试平台和底座，其特征在于，所述底座上设有多个螺纹孔，在所述螺纹孔中安装有可调节的螺纹紧固件。
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