[实用新型]一种超高频局放测试仪考核校验装置有效
| 申请号： | 201220653529.X | 申请日： | 2012-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN202975308U | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 胡维兴 | 申请（专利权）人： | 杭州西湖电子研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 杜军 |
| 地址： | 310011 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种超高频局放测试仪考核校验装置。本实用新型包括金属密闭外壳、宽带信号发射天线、超高频传感器，宽带信号发射天线和超高频传感器置于由金属密闭外壳构成的密闭空间内；所述的宽带发射天线通过信号线与外界仪器相连，超高频传感器通过信号线与外界测量仪器相连。本实用新型能够有效屏蔽外界电磁信号的干扰，实现对超高频局放测试仪的考核校验，提高考核校验的准确度，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超高频 测试仪 考核 校验 装置 | ||
【主权项】：
一种超高频局放测试仪考核校验装置，包括金属密闭外壳、宽带信号发射天线、超高频传感器，宽带信号发射天线和超高频传感器置于由金属密闭外壳构成的密闭空间内；所述的宽带信号发射天线通过信号线与外界仪器相连，超高频传感器通过信号线与外界测量仪器相连。2.根据权利要求1所述的一种超高频局放测试仪考核校验装置，其特征在于：宽带信号发射天线和超高频传感器之间的距离可调节。3.根据权利要求1所述的一种超高频局放测试仪考核校验装置，其特征在于：所述的外界测量仪器为超高频信号发生器或频谱分析仪。4.根据权利要求2所述的一种超高频局放测试仪考核校验装置，其特征在于：所述的外界测量仪器为频谱分析仪。
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