[实用新型]一种X荧光光谱分析仪有效

专利信息
申请号: 201220185594.4 申请日: 2012-04-26
公开(公告)号: CN202854069U 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 赵敏;杨绍雨 申请(专利权)人: 南京第四分析仪器有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 黄明哲
地址: 211300 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种X荧光光谱分析仪,包括X光管、准直器、多个元素特征X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机,X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样,元素特征X射线探测器接收试样反射出的X射线,元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上位计算机。本实用新型所有元素特征X射线谱峰检测全部有探测器完成,采集到的信号直接由计算机软件进行分析,得到元素谱峰图,经过算法计算得到各元素的含量,由于采用探测器完成信号采集,计算机软件进行分析,减少了对X光管高压和信号放大电路的稳定性要求,不需要用户频繁使用标样初始化定标。
搜索关键词: 一种 荧光 光谱分析
【主权项】:
一种X荧光光谱分析仪,其特征是包括X光管、准直器、元素特征X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机,X光管、准直器和元素特征X射线探测器对应设有至少一组,X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样,元素特征X射线探测器接收试样反射出的X射线,所有元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上位计算机。
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