[实用新型]一种X荧光光谱分析仪有效
申请号: | 201220185594.4 | 申请日: | 2012-04-26 |
公开(公告)号: | CN202854069U | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 赵敏;杨绍雨 | 申请(专利权)人: | 南京第四分析仪器有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人: | 黄明哲 |
地址: | 211300 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种X荧光光谱分析仪,包括X光管、准直器、多个元素特征X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机,X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样,元素特征X射线探测器接收试样反射出的X射线,元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上位计算机。本实用新型所有元素特征X射线谱峰检测全部有探测器完成,采集到的信号直接由计算机软件进行分析,得到元素谱峰图,经过算法计算得到各元素的含量,由于采用探测器完成信号采集,计算机软件进行分析,减少了对X光管高压和信号放大电路的稳定性要求,不需要用户频繁使用标样初始化定标。 | ||
搜索关键词: | 一种 荧光 光谱分析 | ||
【主权项】:
一种X荧光光谱分析仪,其特征是包括X光管、准直器、元素特征X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机,X光管、准直器和元素特征X射线探测器对应设有至少一组,X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样,元素特征X射线探测器接收试样反射出的X射线,所有元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上位计算机。
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