[实用新型]一种半导体内存芯片多功能复用测试座有效
| 申请号： | 201220183173.8 | 申请日： | 2012-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN202649244U | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 钱院生 | 申请（专利权）人： | 海太半导体(无锡)有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种半导体内存芯片多功能复用测试座，包括：盖(1)、接触器(4)、底座(5)、插销(8)和插销弹簧(10)，所述接触器(4)固定在底座(5)上，插销(8)通过插销弹簧(10)固定在接触器(4)上，盖(1)置于最上层，并设有突块，突块正对接触器(4)和插销(8)，接触器(4)和插销(8)在突块的作用下张开连接。能适应多尺寸及多引脚复用测试，降低购买及保有数量，降低测试维护成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 内存 芯片 多功能 测试 | ||
【主权项】：
一种半导体内存芯片多功能复用测试座，其特征在于，包括：盖(1)、接触器(4)、底座(5)、插销(8)和插销弹簧(10)，所述接触器(4)固定在底座(5)上，插销(8)通过插销弹簧(10)固定在接触器(4)上，盖(1)置于最上层，并设有突块，突块正对接触器(4)和插销(8)，接触器(4)和插销(8)在突块的作用下张开连接。
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