[实用新型]硅片线痕测量的测试头有效
| 申请号： | 201220135177.9 | 申请日： | 2012-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN202494408U | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 韩波;丁杰;于才华;袁前程 | 申请（专利权）人： | 宁波升科太阳能股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00;G01B5/06 |
| 代理公司： | 杭州金源通汇专利事务所(普通合伙) 33236 | 代理人： | 呼保平 |
| 地址： | 315040 浙江省宁波市高新区凌云*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体，其特征是所述的测试头本体为空腔结构，其前端为尖头结构。其尖端部分的角度可以根据情况而设置。所述的测试头本体上设有螺纹孔及与螺纹孔相配合的螺丝。测试时可通过螺丝将测试头固定在千分尺的测砧上。本实用新型得到的硅片线痕测量的测试头，克服现有千分尺无法深入测量敞口较为狭窄的物件，以及目前千分尺测试的局限性，而且能方便的安装在普通千分尺上，对硅片进行方便测量。 | ||
| 搜索关键词： | 硅片 测量 测试 | ||
【主权项】：
一种硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体（9），其特征是所述的测试头本体（9）为空腔结构，其前端为尖头结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波升科太阳能股份有限公司，未经宁波升科太阳能股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220135177.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：台阶轴齿宽精确测量工具
- 下一篇：一种汽车发动机安装支架冲压检具
