[实用新型]一种激光测定硅单晶晶向的演示教学仪器有效

专利信息
申请号: 201220059473.5 申请日: 2012-02-20
公开(公告)号: CN202563791U 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 李松涛;任芝;张晓宏;刘洋;赵爱林;张鲲鹏 申请(专利权)人: 华北电力大学(保定)
主分类号: G09B23/26 分类号: G09B23/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 071003 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 一种激光测定硅单晶晶向的演示教学仪器,包括:激光器、分束镜、经研磨和腐蚀处理后的不同晶向的硅片和中间带孔的屏幕,其特征在于:激光器发射出来的一束激光,被分束镜分成两束光,两束光通过中间带孔的屏幕,分别照射在两个处理过的具有不同晶向的硅片上,硅片反射激光到屏幕上,形成不同形状的特征光图,给学生以直观的图像。
搜索关键词: 一种 激光 测定 硅单晶晶 演示 教学 仪器
【主权项】:
一种激光测定硅单晶晶向的演示教学仪器,包括:激光器、分束镜、经研磨和腐蚀处理后的不同晶向的硅片和中间带孔的屏幕,其特征在于:激光器发射出来的一束激光,被分束镜分成两束光,两束光通过中间带孔的屏幕,分别照射在两个处理过的具有不同晶向的硅片上,硅片反射激光到屏幕上,形成不同形状的特征光图,给学生以直观的图像。
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