[实用新型]集成电路测试装置

摘要

本实用新型涉及一种集成电路测试装置，包括底座（10）和上盖（20），所述上盖（20）于内端与底座（10）借助锁扣机构实现扣合或打开；锁扣机构包括第一锁扣组件（40）和第二锁扣组件（50）；第一锁扣组件（40）又包括操作手柄（41）和扣钩（42），扣钩（42）上端与上盖（20）内端可转动连接，扣钩（42）的下端能与第二锁扣组件（50）扣合；操作手柄（41）上盖（20）外端可转动连接，用于向下操作推动扣钩（42）与第二锁扣组件（50）扣合、或者向上操作促使扣钩（42）与第二锁扣组件（50）脱开。同现有技术相比较，本实用新型具有操作方便、经久耐用等优点。

主权项

一种集成电路测试装置，包括底座（10）和上盖（20），所述上盖（20）于外端与底座（10）可转动连接，所述上盖（20）于内端与底座（10）借助锁扣机构实现扣合或打开；其特征在于：所述锁扣机构包括设置在所述上盖（20）内端的第一锁扣组件（40）和设置在所述底座（10）内端的第二锁扣组件（50），所述第一锁扣组件（40）与第二锁扣组件（50）相适配而能相互扣合或脱开；所述第一锁扣组件（40）又包括操作手柄（41）和扣钩（42），所述扣钩（42）上端与所述上盖（20）内端可转动连接，扣钩（42）的下端能与第二锁扣组件（50）扣合；所述操作手柄（41）紧挨所述扣钩（42）的上端，也与所述上盖（20）外端可转动连接，用于向下操作推动所述扣钩（42）与第二锁扣组件（50）扣合、或者向上操作促使所述扣钩（42）与第二锁扣组件（50）脱开。