[实用新型]一种上料双片检测装置有效
| 申请号： | 201220055201.8 | 申请日： | 2012-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN202495463U | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 金德琳;卓昊男;孙支柱;蔡钟明 | 申请（专利权）人： | 浙江贝盛光伏股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/18 | 分类号： | H01L31/18;G01N29/04 |
| 代理公司： | 湖州金卫知识产权代理事务所(普通合伙) 33232 | 代理人： | 裴金华 |
| 地址： | 313000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种上料双片检测装置，包括输送轨道，以及驱动该输送轨道的驱动装置，所述输送轨道上固定设置有检测器，该检测器包括超声信号发射装置，与该超声信号发射装置相对的超声信号接收装置，以及与该超声信号接收装置相连接的警示装置。本实用新型检测精度高，基本无误判；可有效地防止双片流入后道，大大减少了返工片和碎片的产生，提高了成品率，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 上料双片 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种上料双片检测装置，包括输送轨道，以及驱动该输送轨道的驱动装置，其特征在于：所述输送轨道上固定设置有检测器，该检测器包括超声信号发射装置，与该超声信号发射装置相对的超声信号接收装置，以及与该超声信号接收装置相连接的警示装置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
