[发明专利]用于测量残余相位噪声的系统

摘要

本申请涉及用于测量残余相位噪声的系统。一种用于测量被测设备（DUT）的残余相位噪声的系统，包括第一信号源、第二信号源、第一接收器、第二接收器和处理器。第一信号源生成将被输入到DUT的第一信号作为激励信号，并提供与第一信号相位相干的第二信号。第二信号源接收第二信号并且基于第二信号生成参考信号，参考信号与激励信号相位相干。接收器响应于激励信号测量来自DUT的输出信号，接收器测量来自第二信号源的参考信号。处理器通过确定测量的输出信号和测量的参考信号之间的差值来在数学上抑制输出信号的载波，并且基于差值确定DUT的残余相位噪声。

主权项

一种用于测量被测设备（DUT）（205）的残余相位噪声的系统（200），所述系统包括：第一信号源（201），被配置为生成将被输入到所述DUT（205）的第一信号作为激励信号，并提供与所述第一信号相位相干的第二信号；第二信号源（202），被配置成接收所述第二信号并且基于所述第二信号生成参考信号，所述参考信号与所述激励信号相位相干；第一接收器（220），被配置成响应于所述激励信号而接收和测量来自所述DUT（205）的输出信号；第二接收器（230），被配置成接收并且测量来自所述第二信号源（202）的所述参考信号；以及处理器（250），被配置成接收来自所述第一接收器（220）的测量的输出信号和来自所述第二接收器（230）的测量的参考信号，以通过确定所测量的输出信号和所测量的参考信号之间的差来在数学上抑制所述输出信号的载波，并且基于所述差来确定所述DUT（205）的残余相位噪声。