[发明专利]测试可见光通信系统中光源性能的装置有效
申请号: | 201210579519.0 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103001694A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 裴艳荣;杨华;赵丽霞;王军喜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07;H04B10/116 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种测试可见光通信系统中光源性能的装置。该装置包括:发射端组件,用于将电信号施加至被测试光源,生成发射角度可变的可见光测试信号;接收端组件,用于接收光测试信号,进行不同光通量条件下的被测试光源的性能测试。本发明能够测试光源在不同光通量条件下的性能。 | ||
搜索关键词: | 测试 可见 光通信 系统 光源 性能 装置 | ||
【主权项】:
一种测试可见光通信系统中光源性能的装置,其特征在于,包括:发射端组件,用于将电信号施加至被测试光源,生成发射角度可变的可见光测试信号,该发射端组件至少包括:信号产生元件,用于提供用于测试的电信号,该电信号被输入至被测试光源中;光发射支架,用于安装所述被测试光源,调整由该被测试光源利用所述电信号生成可见光测试信号的发射角度;接收端组件,用于接收光测试信号,进行不同光通量条件下的被测试光源的性能测试,该接收端组件至少包括:光电探测器,用于接收进入其探测窗口的可见光测试信号,生成电信号,该进入光电探测器探测窗口的可见光测试信号的光通量随入射的由被测试光源生成的可见光测试信号的发射角度的变化而变化;光源性能分析元件,用于对所述光电探测器生成的电信号进行分析,进而获取被测试光源的性能参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210579519.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。