[发明专利]一种频率测试方法及系统有效
| 申请号： | 201210567479.8 | 申请日： | 2012-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN103901271A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 吴钊锋 | 申请（专利权）人： | 东莞市泰斗微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/10 | 分类号： | G01R23/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市松山湖高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供一种频率测试方法，所述方法包括：步骤一，获取时间脉冲A；步骤二，使用所述时间脉冲A测量晶振时钟频率，获得晶振实时时钟频率值F；步骤三，使用所述晶振测量待测对象，获得一段时间内待测对象的时钟个数值N，同时获得这段时间内晶振的时钟个数值M；步骤四，根据待测对象频率测试值f=(N/M)*F，计算并输出待测对象的频率测试值。采用本发明的技术方案后，解决了现有技术中频率测试的高精度晶振成本高，使用麻烦，低精度晶振精度不高，不能适应高精度要求，且通过将卫星授时加入到频率测试中，让低精度的晶振提高了测试精度，具有体积小，价格便宜，精度较高，不需预热即可使用，测试精度稳定等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 频率 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种频率测试方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一，获取时间脉冲A；步骤二，使用所述时间脉冲A测量晶振时钟频率，获得晶振实时时钟频率值F；步骤三，使用所述晶振测量待测对象，获得一段时间内待测对象的时钟个数值N，同时获得这段时间内晶振的时钟个数值M；步骤四，计算并输出待测对象的频率测试值f。
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