[发明专利]非晶硅光学薄膜折射率调节方法无效

专利信息
申请号: 201210566151.4 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN103205727A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 曾璞;周小燕;苏洁梅;刘从吉;陈逢彬;赖冬寅;柯尊贵;罗成思;袁菲 申请(专利权)人: 西南技术物理研究所
主分类号: C23C16/24 分类号: C23C16/24;C23C16/50
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出的一个非晶硅薄膜折射率的调节方法,简单可行,折射率可调节范围较大,精度易于控制。本发明可以通过下述技术方案予以实现:在采用化学气相沉积PECVD硅烷辉光放电制备非晶硅薄膜中,平行板结构装置衬底放在具有温控装置的平板上,射频电压加在上下平行板之间;反应腔体内采用热丝控制气体温度,在辉光放电前,先将沉积室温抽真空,保持50Pa压强;然后在辉光放电沉积过程的反应室中,通入少量N2O与硅烷作为非晶硅薄膜反应气体,同时掺杂比例低于百分之十的微量氧元素;对衬底进行加热,让上下平板间出现电容耦合式的气体放电,使氧原子在非晶硅中形成载流子复合中心,将氧原子掺杂入非晶硅薄膜中,形成含氧的氢化非晶硅。
搜索关键词: 非晶硅 光学薄膜 折射率 调节 方法
【主权项】:
一种非晶硅薄膜折射率的调节方法,其特征在于包括如下步骤:在采用化学气相沉积PECVD硅烷辉光放电制备非晶硅薄膜中,平行板结构装置衬底放在具有温控装置的平板上,射频电压加在上下平行板之间;设置工艺参数,反应腔体内采用热丝控制气体温度,在辉光放电前,先将沉积室温抽真空到5x10‑5Pa;然后在辉光放电沉积过程的反应室中,通入低于硅烷流量百分之十的N2O与硅烷作为非晶硅薄膜反应气体,N2O的掺杂比例低于总反应气体流量的百分之十;在反应过程中,反应腔中保持50Pa的压强,对衬底进行加热到300℃,让上下平板间出现电容耦合式的气体放电,将氧原子掺杂入非晶硅薄膜中,使氧原子在非晶硅中与Si形成新键,形成含氧的氢化非晶硅。
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