[发明专利]一种多径衰落信道下OFDM系统的采样频率偏移盲估算方法有效

专利信息
申请号: 201210555448.0 申请日: 2012-12-19
公开(公告)号: CN103095638A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 李兵兵;孙珺;刘明骞;曹超凤 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H04L27/26 分类号: H04L27/26
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 710071 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种多径衰落信道下OFDM系统的采样频率偏移盲估算方法。根据具有相关导频的OFDM信号的循环平稳特性,利用改进后的谱函数克服采样频率偏移带来的衰减和多径衰落信道影响的数据估计出相关值点,再根据其估计值点处的循环谱值相位偏移量来估计采样频率偏移,可以克服频偏、高斯白噪声和多径衰落信道的影响,并利用跳变变换,充分利用数据,大大提高OFDM系统的采样频率偏移的估计性能。
搜索关键词: 一种 衰落 信道 ofdm 系统 采样 频率 偏移 估算 方法
【主权项】:
1.一种多径衰落信道下OFDM系统的采样频率偏移估算方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)对接收到的信号y(t)采样得到y[n];(2)计算采样后信号y[n]的谱函数幅值并在全局范围内,以大步长搜索最大值位置[α1,f1]=maxα,α0(maxf|SY1α(f)|);]]>(3)计算采样后信号y[n]的谱函数幅值并在[α1,f1]邻域范围内,以小步长搜索最大值位置[α2,f2]=maxα,α0(maxf|SY2α(f)|),]]>所述最大值位置即的相位稳定变化处,并且,将所述最大值位置作为估算的相关点;(4)计算M个窗口在[α2,f2]点处的循环谱函数值(m=0,1,2,…M),并提取出其相位值S_n;(5)根据S_n前后差值为正号的个数判断SFO符号为flag(flag值取1或-1),S_n乘以flag;(6)从1到M,将an作为相位值变化因子,设定an初始值为-π,将S_n(m)转化为(an,an+2π]范围内相位S_a(m),当S_a(m)≥an+π时,an=an+π/2,计算S_a(m+1),以此进行类推;(7)对所得S_a进行最小二乘直线拟合,求其斜率为k_a,再根据下式估算采样频率偏移值ε:ϵ=flag2πLα2Nk_a-1.]]>
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