[发明专利]一种生长在Si衬底上的AlN薄膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201210536779.X 申请日: 2012-12-11
公开(公告)号: CN103022295A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 李国强 申请(专利权)人: 广州市众拓光电科技有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 汤喜友
地址: 510000 广东省广州市广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种生长在Si衬底上的AlN薄膜,其采用如下制备方法获得:采用Si衬底,选择Si衬底的(111)晶面为晶体取向,先在Si(111)晶面上生长出Al缓冲层,再外延生长AlN薄膜。本发明使用Si为衬底,同时采用脉冲激光沉积生长法在Si(111)衬底上生长AlN薄膜,AlN晶体择优取向生长,获得衬底与AlN之间很低的晶格失配度,极大地提高了AlN晶体的质量,适合应用在光电探测器、LED器件中。
搜索关键词: 一种 生长 si 衬底 aln 薄膜 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
一种生长在Si衬底上的AlN薄膜的制备方法,其特征在于:采用Si衬底,选择Si衬底的(111)晶面为晶体取向,先在Si(111)晶面上生长出Al缓冲层,再外延生长AlN薄膜。
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