[发明专利]集成MOSFET的IGBT器件及制造方法在审
申请号: | 201210513152.2 | 申请日: | 2012-12-04 |
公开(公告)号: | CN103855154A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 李东升;胡晓明 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L21/8232;H01L21/265 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种集成MOSFET的IGBT器件,将IGBT器件以及IGBT的栅驱动MOSFET集成在一起,使IGBT自身集成栅驱动能力;IGBT与栅驱动MOSFET两者之间进行有效隔离,不产生漏电通路。本发明还公开了所述器件的制造方法,将MOSFET工艺和IGBT工艺有机结合起来,通过一套版和一套工艺就能实现智能绝缘栅双极晶体管的制造。 | ||
搜索关键词: | 集成 mosfet igbt 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种集成MOSFET的IGBT器件,其特征在于:包含:在N型硅衬底上的N型外延中,具有隔离的MOSFET及IGBT区;所述MOSFET,位于外延层中的隔离结构中,所述隔离结构具有一位于衬底中的P型埋层,埋层两侧上方各具有氧化硅形成的隔离沟槽连接到所述P型埋层;所述隔离沟槽与P型埋层即形成隔离结构;隔离结构中靠隔离沟槽均具有P阱,P阱之间具有N阱,所述P阱中具有所述MOSFET的N型源区及P型引出区,所述N阱中具有所述MOSFET的N型漏区;P阱与N阱之间的外延表面具有MOSFET的栅氧化层及多晶硅栅极;所述IGBT区,在外延中具有P阱,P阱中具有所述IGBT的N型发射区及P型引出区;P阱上的外延表面具有所述IGBT的栅极;整个硅衬底的背面具有P型注入层,淀积金属层将衬底P注入层引出,形成IGBT器件的集电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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