[发明专利]一种双激光束光轴共线调校法

摘要

本发明公开了一种双激光束光轴共线调校法，首先对第一激光进行姿态调节，再需要三次操作就可以完成双激光光束光轴共线调节，且保证两束激光测量的基准面相同，第一次只需保持顶面与第二平面贴合；后面与第一平面贴合；第二次保持光学成像系统紧贴校调板的第一平面和第二平面；第三次只需保持光学成像系统的顶面与第二平面贴合；前面与第一平面贴合，这样第一次和第二次保证一个基准面相同，第一次和第三次保证另一个基准面相同，从而使得整套测量方法的可靠性提高。可提高激光类型的双传感器组合测量精度：本方法直接对激光光束进行精密测量，可提高两个激光类型传感器激光位置关系的标定精度，从而提高整个双传感器组合测量的检测精度。

主权项

一种双激光束光轴共线调校法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：（1）在具有相互垂直的第一平面和第二平面的校调板上设置有第一激光器、第二激光器和具有显微放大功能的光学成像系统；（2）将相互垂直的所述第一平面和所述第二平面的交线作为基准直线，所述光学成像系统紧贴校调板的所述第一平面和所述第二平面，并沿所述基准直线进行同侧平移，通过所述第一激光器采集不同位置处的激光光斑中心，分别获取多个第一激光光斑中心；（3）判断各个第一激光光斑中心的中心位置坐标是否相同，若相同，执行步骤（4）；若不同，对所述第一激光器进行校正，使得各个第一激光光斑中心坐标相同，再执行步骤（4）；（4）将所述光学成像系统异侧翻转180度，使所述光学成像系统的顶面与所述第二平面贴合；后面与所述第一平面贴合；所述光学成像系统并沿所述基准直线进行同侧平移，通过所述第二激光器采集不同位置处的激光光斑中心，分别获取多个第二激光光斑中心；（5）判断各个第二激光光斑中心的中心位置坐标是否相同，若相同，同时记录第二激光光斑中心的坐标值，执行步骤（6）；若不同，对所述第二激光器进行校正，使得各个第二激光光斑中心坐标相同，记录第二激光光斑中心的坐标值，再执行步骤（6）；（6）将所述光学成像系统异侧翻转180度，使所述光学成像系统紧贴校调板的所述第一平面和所述第二平面；所述光学成像系统通过所述第一激光器采集任意位置处的第三激光光斑中心并记录坐标值；（7）判断第二激光光斑中心坐标的X值和第三激光光斑中心坐标的X值是否相同，如果是，执行（8）；如果否，则对第一激光器进行校正，使得X坐标值相同，再执行步骤（8）；（8）将所述光学成像系统同侧翻转180度，使所述光学成像系统的顶面与所述第二平面贴合；前面与所述第一平面贴合；所述光学成像系统通过所述第一激光器采集任意位置处的第四激光光斑中心并记录坐标值；（9）判断第四激光光斑中心坐标的Z值和第二激光光斑中心坐标的Z值是否相同，如果是，流程结束；如果否，则对第一激光器进行校正，使得Z坐标值相同，流程结束。