[发明专利]一种RFID天线的外观缺陷检测系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201210498896.1 申请日: 2012-11-29
公开(公告)号: CN103018261A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 尹周平;陈建魁;钟强龙;杨航 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 朱仁玲
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种用于RFID天线的外观缺陷检测方法,包括:摄像装置的预标定步骤;将摄像装置移动至所需位置,并通过与条形光源或背光光源之间的配合,对待检测的天线拍摄其图像;采集所拍摄的图像并对其执行边缘检测,由此获得检测图像内的天线数量并分别记录其长、宽和中心点坐标值等信息;以及根据需求,选择性执行线宽检测、图案断线/粘连检测和毛刺/印刷污染检测等项目中的至少一项,由此获知所检测天线的质量结论。本发明还公开了相应的检测系统。通过本发明,能够以结构紧凑、便于操作的方式来对RFID天线执行质量检测,并高效率、高准确性地获知检测结果,同时便于实时反馈和质量控制,因而尤其适用于工业化RFID的加工制造过程。
搜索关键词: 一种 rfid 天线 外观 缺陷 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
一种RFID天线的外观缺陷检测系统,其特征在于,该外观缺陷检测系统包括摄像装置(1)、三自由度移动模组(2)、条形光源(3)、背光光源(4)和视觉检测装置(5),其中:所述摄像装置(1)安装在可沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向来回移动的三自由度移动模组(2)上,并处于待检测的RFID天线的上方,用于在其视野范围内拍摄天线的图像;所述条形光源(3)对称设置在摄像装置(1)的两侧,所述背光光源(4)设置在待检测的RFID天线的下方,由此根据RFID天线基板的不同而选择性开启与摄像装置(1)相配合,以便执行对天线的拍摄操作;所述视觉检测装置(5)包括标定单元(501)、图像获取单元(502)、边缘检测单元(503)、线宽测量单元(504)和连通域分析单元(505),其中标定单元(501)用于对摄像装置(1)所要拍摄的图像建立像素坐标,并将像素坐标转换成同一世界坐标系下的坐标值;所述图像获取单元(502)用于采集摄像装置(1)所拍摄的天线图像;所述边缘检测单元(503)用于对所采集的图像执行边缘检测,并获取该图像中的RFID天线数量及其各自所对应的长、宽和中心点坐标值信息;所述线宽测量单元(504)用于对所采集图像中的各个天线设定兴趣区域,并分别测量该区域内的平均线宽与标准天线的线宽作比较;所述连通域分析单元(505)用于从所采集图像中获取各个天线的单独图像,并执行二值化处理及blob分析以获得有关图案断线和/或粘连的检测结果,或是将各个天线的图像与标准天线图像匹配相减后再执行二值化处理及blob分析,由此获得有关毛刺和/或印刷污染的检测结果。
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