[发明专利]基于角度光偏置的偏硼酸钡晶体电场传感器的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210466063.7 申请日: 2012-11-16
公开(公告)号: CN102967734A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 曾嵘;李长胜;王博;牛犇 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R3/00 分类号: G01R3/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 罗文群
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于角度光偏置的偏硼酸钡晶体电场传感器的制备方法,属于高压强电场测量技术领域。本方法采用偏硼酸钡晶体作为电场传感器的传感材料,在晶体定轴切割过程中控制晶体c光轴与通光面法线方向成一个较小角度,该角度根据选用的激光源的波长、偏硼酸钡晶体在该波长下的折射率、以及晶体通光方向的长度来确定。利用偏硼酸钡晶体近轴光束的自然双折射产生静态光波相位偏置,实现电场的线性传感。本发明方法制备的电场传感器,可以测量电场强度的幅值,还可以测量电场的频率、相位等信息,是一种时域测量电场传感器,而且具有测量灵敏度较高、响应速度快、测量范围和频率范围宽、结构更简单、稳定性好、对待测电场的干扰小等优点。
搜索关键词: 基于 角度 偏置 硼酸 晶体 电场 传感器 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于角度光偏置的偏硼酸钡晶体电场传感器的制备方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)采用熔盐法生长得到偏硼酸钡晶体;(2)对偏硼酸钡晶体进行定轴切割,使得晶体的c光轴方向与晶体的通光方向成θ角:其中,λ为自由空间的激光源波长,为由单轴晶体自然双折射产生的相位延迟,no为偏硼酸钡晶体的寻常光折射率,no=1.6680,ne为偏硼酸钡晶体的异常光折射率,ne=1.5310,l为晶体在晶体通光方向上的长度;(3)在步骤(2)定轴切割得到的偏硼酸钡晶体的激光入射端粘接起偏器,激光出射端粘接检偏器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210466063.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top