[发明专利]一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210461745.9 申请日: 2012-11-16
公开(公告)号: CN102931057A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 王浩敏;谢红;孙秋娟;康晓旭;刘晓宇;谢晓明 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L21/04 分类号: H01L21/04;H01L29/78;H01L29/51
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法,该石墨烯场效应器件包括:具有栅电极沟槽的衬底;形成于所述栅电极沟槽中的栅电极;Al2O3介电薄膜层,位于所述栅电极沟槽中的栅电极表面,且Al2O3介电薄膜层表面与衬底表面齐平;覆盖于所述Al2O3介电薄膜层和衬底表面的BN薄膜层;形成于所述BN薄膜层上方的石墨烯;设置在所述石墨烯上方的源电极和漏电极,所述源电极和漏电极分别与石墨烯电性连接。本发明制备的BN薄膜层与Al2O3介电薄膜层共同构成新型的栅介质结构,有效保持了石墨烯中固有载流子的高迁移率,增强栅极的场效应作用,适用于石墨烯基高射频器件及碳基大规模集成电路制造领域。
搜索关键词: 一种 基于 介质 结构 石墨 场效应 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件的制备方法,其特征在于,所述制备方法至少包括:1)提供一衬底,刻蚀所述衬底形成栅电极沟槽;2)在所述衬底表面沉积金属Al材料,并使所述金属Al材料填充于所述栅电极沟槽;3)采用抛光工艺抛除所述栅电极沟槽外的金属Al材料,使所述衬底表面与栅电极沟槽内金属Al材料表面齐平,所述沟槽内的金属Al材料为栅电极;4)通入O2使所述金属Al材料表面氧化,形成致密的Al2O3介电薄膜层,刻蚀所述Al2O3介电薄膜层,露出部分金属Al作为栅电极接触;5)采用等离子体增强化学气相沉积工艺在步骤4)的结构表面制备BN薄膜层,刻蚀所述BN薄膜层,露出栅电极;6)在所述BN薄膜层表面形成石墨烯,刻蚀所述石墨烯形成导电沟道。7)在所述石墨烯表面制备形成源电极和漏电极,形成基于Al2O3‑BN新型栅介质结构的石墨烯场效应器件结构,其中,所述源电极和漏电极分别与石墨烯电性连接。
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