[发明专利]一种基于数字散斑相关法的激光位移测量方法无效
| 申请号： | 201210447154.6 | 申请日： | 2012-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN102967261A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 李顶根;沈磊;朱鸿茂;褚俊;罗锋;刘明勇 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于数字散斑相关法的新型激光位移测量方法，具体为：激光经聚焦垂直入射移动中的被测物体表面；接收被测物体表面入射光点处的散射光，并通过成像透镜成像在CCD的敏感面上得到散射光斑；当散射光斑的信号带宽小于等于带宽阀值时，则表明被测物体表面为弱散射界面，采用平均加权重心法测量散射光斑在CCD上的位移；当散射光斑的信号带宽大于带宽阀值时，则表明被测物体表面为强散射截面，采用相关法测量散射光斑在CCD上的位移；根据散射光斑在CCD上的位移计算被测物体的位移。本发明实现对各种粗糙度物面位移的精确测量，具有测量快速性和精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 数字 相关 激光 位移 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于数字散斑相关法的激光位移测量方法，具体为：步骤1激光经聚焦垂直入射移动中的被测物体表面；步骤2接收被测物体表面入射光点处的散射光，并通过成像透镜成像在CCD的敏感面上得到散射光斑；步骤3当散射光斑的信号带宽小于等于带宽阀值F时，则表明被测物体表面为弱散射界面，采用平均加权重心法测量散射光斑在CCD上的位移δ；当散射光斑的信号带宽大于带宽阀值F时，则表明被测物体表面为强散射截面，采用相关法测量散射光斑在CCD上的位移δ；步骤4根据散射光斑在CCD上的位移δ计算被测物体的位移Δ。
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