[发明专利]一种材料离子辐照力学性能测试方法有效
申请号: | 201210445303.5 | 申请日: | 2012-11-09 |
公开(公告)号: | CN102967507A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 索进平;杨峰;邹星荣 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/30;G01N1/44 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种评价材料离子辐照力学性能的方法。该方法包括:首先加工好特定的辐照试样,然后测得辐照试样U型缺口底部至下表面的实际厚度D1及试样宽度D2,再将试样放入到离子注入机中进行双面辐照,辐照后的试样进行拉伸实验和冲击实验,获得实验数据,最后将获得的数据用于评价材料的力学性能,其中材料的韧性用冲击实验获得的冲击功进行评价,而材料的强度用下面方法得到:Rm=F/(D1×D2),其中Rm为材料的抗拉强度,F为拉伸曲线图上确定实验过程中达到的最大力。本发明解决材料离子辐照力学性能难以评价的难题,具有重要的科研价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 材料 离子 辐照 力学性能 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种材料离子辐照力学性能测试方法,其步骤包括:第1步在待测试试样的上加工一个U形缺口;待测试试样的上表面宽度为D2,U形缺口底部到下表面A面的距离为D1,U型缺口的宽度为L1;D2=10mm±5mm,D1<0.06mm,L1=0.2mm±0.05mm;第2步测量待测试试样的U型缺口底部至下表面的实际距离d1和上表面实际宽度d2;第4步再将待测试试样进行双面离子辐照;第5步将辐照后的待测试试样进行力学性能测试,获取测试数据,辐射后材料的抗拉强度Rm=F/(d1×d2),其中Rm为材料的抗拉强度,F为拉伸曲线图上确定实验过程中达到的最大力。
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