[发明专利]超薄氧化层的激光处理生长方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210426177.9 申请日: 2012-10-30
公开(公告)号: CN102945798A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 严利人;刘志弘;张伟;周卫;韩冰 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L21/268 分类号: H01L21/268
代理公司: 北京中伟智信专利商标代理事务所 11325 代理人: 张岱
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种超薄氧化层的激光处理生长方法,为解决现有超薄氧化层生长厚度难以精确控制等问题而发明。本发明超薄氧化层的激光处理生长方法为在硅片的浅表面引入氧化剂后对该硅片进行激光照射,通过激光给能促使化学反应发生而形成超薄氧化层。氧化剂的引入方法为:将硅片放置在氧化性气氛中;或,对硅片浅表面进行低能离子注入氧元素;亦或,在硅片浅表面内低能离子注入氧元素后将该硅片放置在氧化性气氛中。本发明超薄氧化层的激光处理生长装置包括进气孔、出气孔、密封工艺腔室、载片台、激光器和透明窗口。本发明超薄氧化层的激光处理生长方法及装置结构合理,使用方便,可生成质量好的薄氧化层,适用于多种半导体器件中薄氧化层的制备。
搜索关键词: 超薄 氧化 激光 处理 生长 方法 装置
【主权项】:
一种超薄氧化层的激光处理生长方法,其特征在于,所述方法为在硅片的浅表面引入氧化剂后对该硅片进行激光照射;所述浅表面为硅片表面0至20nm范围内的部分。
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