[发明专利]超薄氧化层的激光处理生长方法及装置有效
申请号: | 201210426177.9 | 申请日: | 2012-10-30 |
公开(公告)号: | CN102945798A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 严利人;刘志弘;张伟;周卫;韩冰 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H01L21/268 | 分类号: | H01L21/268 |
代理公司: | 北京中伟智信专利商标代理事务所 11325 | 代理人: | 张岱 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种超薄氧化层的激光处理生长方法,为解决现有超薄氧化层生长厚度难以精确控制等问题而发明。本发明超薄氧化层的激光处理生长方法为在硅片的浅表面引入氧化剂后对该硅片进行激光照射,通过激光给能促使化学反应发生而形成超薄氧化层。氧化剂的引入方法为:将硅片放置在氧化性气氛中;或,对硅片浅表面进行低能离子注入氧元素;亦或,在硅片浅表面内低能离子注入氧元素后将该硅片放置在氧化性气氛中。本发明超薄氧化层的激光处理生长装置包括进气孔、出气孔、密封工艺腔室、载片台、激光器和透明窗口。本发明超薄氧化层的激光处理生长方法及装置结构合理,使用方便,可生成质量好的薄氧化层,适用于多种半导体器件中薄氧化层的制备。 | ||
搜索关键词: | 超薄 氧化 激光 处理 生长 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种超薄氧化层的激光处理生长方法,其特征在于,所述方法为在硅片的浅表面引入氧化剂后对该硅片进行激光照射;所述浅表面为硅片表面0至20nm范围内的部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210426177.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高密度厚膜混合集成电路的集成方法
- 下一篇:一种分支井分采工具及其施工工艺
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造