[发明专利]用于利用成像系统生成关注区域的三维模型的方法和设备有效
申请号: | 201210417742.5 | 申请日: | 2012-10-26 |
公开(公告)号: | CN103106682B | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 德拉戈斯·戈卢博维克;约翰·廷吉 | 申请(专利权)人: | 诺信公司 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 张建涛,车文 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于利用成像系统生成关注区域的三维模型的方法和设备。本发明提供在x‑射线成像系统中生成目标对象上的关注区域的三维表示的方法。该方法利用具有已知几何形状的基准标记。关注区域和基准标记在多个预定位置中成像。基准标记的关于每个预定位置的预期图像被计算并被与基准标记在每个预定位置处的捕捉图像进行比较。使用预期图像和捕捉图像之间的差别来生成关注区域的关于每个预定位置的校正图像,并且使用这些校正图像来生成关注区域的三维模型。该方法允许在x‑射线成像系统中生成关注区域的有用的三维模型而不需要昂贵的机械定位系统。 | ||
搜索关键词: | 用于 利用 成像 系统 生成 关注 区域 三维 模型 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种生成目标对象上的关注区域的三维表示的方法,包括以下步骤:a)识别在所述目标对象的关注区域中的或在可移动表面上的具有已知几何形状的基准标记,所述可移动表面相对于所述关注区域被固定;b)当所述关注区域和基准标记位于相对于辐射源的第一位置中并且检测器位于相对于所述辐射源的第一检测器位置中时,通过利用所述检测器检测来自所述辐射源的辐射而产生所述基准标记的第一图像和所述关注区域的第一图像;c)相对于所述辐射源将所述基准标记和关注区域移动到相对于所述辐射源的第二位置,并且将所述检测器移动到相对于所述辐射源的第二检测器位置;d)当所述关注区域和基准标记位于相对于所述辐射源的所述第二位置中并且所述检测器位于相对于所述辐射源的所述第二检测器位置中时,通过利用所述检测器检测来自所述辐射源的辐射而产生所述基准标记的第二图像和所述关注区域的第二图像;e)利用所述基准标记的所述第二图像与关于所述基准标记的预期的第二图像的信息的比较,来生成用于所述关注区域的校正的第二图像数据;以及f)利用所述关注区域的所述第一图像和校正的第二图像数据,来生成所述关注区域的三维表示。
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