[发明专利]一种点扫描三维测量系统振镜标定方法有效

专利信息
申请号: 201210397870.8 申请日: 2012-10-18
公开(公告)号: CN102941410A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 李旭东;赵慧洁;边赟;李成杰;姜宏志 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: B23K26/04 分类号: B23K26/04;G01B11/00
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种点扫描三维测量系统振镜标定方法,它有七大步骤;首先进行系统建模得到振镜偏转角表达式;然后调整标准平面位于已知位置并垂直于系统主方向,测量此平面,由实测数据投影到标准平面得理想数据,利用该数据计算振镜偏转角,拟合其与驱动电压的关系式,利用该关系式再次测量标准平面;重复该过程,直到实测数据到标准平面的标准差小于给定值,得到振镜偏转角度和对应驱动电压的准确关系式。建立两振镜相互影响关系,描述两振镜轴线不垂直误差,修正关系式以提高标定精度。本发明在光学三维测量及激光加工技术领域里有较好的实用价值。
搜索关键词: 一种 扫描 三维 测量 系统 标定 方法
【主权项】:
1.一种点扫描三维测量系统振镜标定方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:步骤一:系统建模,得到振镜偏转角表达式;该系统利用双振镜偏转激光束实现二维扫描,通过探测器上光斑位置和双振镜的偏转角来获得被测点的空间三维坐标;其中d为点P与点B沿Z轴方向的距离,通过成像光线上的点列交比不变性求得θ表示X振镜偏转角,表示Y振镜偏转角,其它变量均为已知量;步骤二:调整标准平面位于已知位置并垂直于系统主方向,测量该平面,给定平面测量允许的实测标准差δ0;步骤三:计算实测数据相对于标准平面的标准差δ,判断是否δ<δ0;步骤四:将实测平面数据投影到标准平面得理想测量数据,利用其计算对应的振镜偏转角;由(1)式,得X、Y振镜偏转角θ、的表达式分别为θ=atanxP(d+zB)-zPxBzP(d+AB)/2---(2)]]>步骤五:对得到的振镜偏转角和驱动电压关系进行多项式拟合,采用三阶拟合方式以保证拟合残差均匀分布在零点上下,残差范数尽可能小;所得X振镜偏转角θ与驱动电压vx的关系式为θ(vx)=a3vx3+a2vx2+a1vx+a0---(4)]]>所得Y振镜偏转角与驱动电压vy的关系式为上述公式中的符号分别说明如下:a3、a2、a1、a0——X振镜关系式各次项系数b3、b2、b1、b0——Y振镜关系式各次项系数;步骤六:将所得拟合关系式代入系统模型再次对平面进行测量,重复步骤三到步骤六,直到步骤3中δ<δ0;步骤七:分别采用上述步骤得到X振镜偏转角与其驱动电压的关系、Y振镜偏转角与其驱动电压的关系;如果实测平面仍然存在一定误差,说明两振镜轴线不完全垂直;继续按照上述步骤,建立X振镜偏转角和Y振镜驱动电压以及Y振镜偏转角和X振镜驱动电压的关系以修正振镜关系式。
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