[发明专利]一种多晶硅薄膜组件的制备方法有效
申请号: | 201210391806.9 | 申请日: | 2012-10-16 |
公开(公告)号: | CN102881563A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 夏雨 | 申请(专利权)人: | 夏雨 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C23C14/18;C23C14/35 |
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地址: | 315016 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种多晶硅薄膜组件的制备方法,包括清洗玻璃基底,配置环境,以高纯镍和高纯硅分别作为靶材,预溅射以除去硅、镍靶材靶表面的杂质;再在适合环境下开始镀膜,镀膜过程中两靶分别控制实现共同溅射,靶和基底的距离为200~300mm,镍靶的溅射时间为20~30min,硅靶的溅射时间为15~25min;在多晶硅薄膜表面镀制导电透明电极,完毕后在磁控溅射室内氩气氛围中退火,待样品温度降为室温时取出样品;再置于H3PO4∶醋酸∶HNO3∶HF∶H2O=12∶1∶1∶2∶4的腐蚀液中浸泡5~15min,然后再进行镀反射膜,即可获得多晶硅薄膜组件。本发明节省了工艺,避免化学气相沉积方法的化学污染,制造成本低。 | ||
搜索关键词: | 一种 多晶 薄膜 组件 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种多晶硅薄膜组件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤: (1)选择FTO透明玻璃基底,然后通过以下步骤清洗:a 用去离子水将基底冲洗干净,将基底放进预先配制好的NH3·H2O:H2O2:H2O=1:1:5的清洗液中,在水浴恒温75℃下浸泡5~10 分钟;b 将基底取出,用去离子水清洗后, 再将基底放进HCl:H2O2:H2O=1:1:5的清洗液中,在水浴恒温75℃下浸泡5~10 分钟;c 将基底取出后,用去离子水清洗干净,放进盛有HF:H2O=1:1的溶液中,浸泡3~5 分钟,洗去表面的氧化层;d 最后将基底放进丙酮溶液中超声清洗5 分钟,再放进酒精溶液中超声清洗5 分钟,最后用去离子水冲洗干净;e 用分子泵抽本底真空至1×10‑4Pa 左右,加热衬底至温度为300℃,然后通入H2 气,用氢等离子体原位清洗15 分钟,工作条件为:工作功率100W,工作压强100Pa,流量30~40sccm,然后通过静电除尘枪吹干;(2) 打开磁控溅射真空镀膜室,将清洗后的衬底放在转动支架上;开总电源,开机械泵,开真空室角阀,抽真空至2×10‑4~4×10‑4Pa;(3) 以高纯镍和高纯硅分别作为靶材,预溅射以除去硅、镍靶材靶表面的杂质; (4) 镀膜工作氛围为99.99%的氩气,保持镀膜室内温度为25~30℃,镀膜溅射工作气压到0.4~3.0Pa,通过流量控制器调整氩气流量为12~15sccm,镍靶和硅靶射的溅射功率分别为120~180W、12~25W,镀膜过程中两靶分别控制实现共同溅射,靶和基底的距离为200~300mm,镍靶的溅射时间为20~30min,硅靶的溅射时间为15~25min; (5) 再选用纯度为99. 99%的氧化锌作为直流溅射靶,将步骤4)制得的多晶硅薄膜膜层朝向两靶,放在高于两靶上边缘5~8cm的位置;溅射前本底真空为6~8×10‑3Pa,镀膜工作氛围为99.99%的氩气,将氩气通过阀门充入工作室,直至气压达到0.9~4.0Pa,开启溅射电源,继续通入氢气;沉积厚度为200~500 nm,完成在多晶硅薄膜表面镀制导电透明电极;(6) 启动温控电源,使多晶硅薄膜直接在溅射室内氩气氛围中退火,退火温度为480~560℃,退火时间30~90min;将样品置于H3PO4∶醋酸∶HNO3∶HF∶H2O=12∶1∶1∶2∶4的腐蚀液中浸泡5~15min,再用去离子水清洗后吹干;(7) 开启电源,电阻蒸发氟化镁,蒸发电流为1600~1900A,电压为6~10V,时间为50~100S,在最外层获得一层反射膜,完成多晶硅薄膜组件的制备。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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