[发明专利]气腔式封装结构及方法在审

专利信息
申请号: 201210390950.0 申请日: 2012-10-15
公开(公告)号: CN103730426A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 傅志宏;杨菘贸;朱峻霆;许文景 申请(专利权)人: 稳懋半导体股份有限公司
主分类号: H01L23/15 分类号: H01L23/15;H01L23/29;H01L23/49;H01L21/58;H01L21/56
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是一种气腔式封装结构及方法,其中前述结构包含一承载体、复数个芯片、复数条焊线、复数个墙体以及一上盖,其中承载体具有复数个晶座及复数个引脚,而芯片接合于晶座上;复数条焊线用来电性连结芯片与引脚;复数个墙体设置于承载体上,以形成复数个腔室,其中每一个腔室容置有至少一晶座及复数个引脚,且每一墙体设有至少一与外界相连通的开放式气槽,以将封装体气腔内的空气排出;而上盖以封装胶材覆盖黏附于墙体上,以将腔室密封而形成密闭气腔;并包括形成前述结构的方法。
搜索关键词: 气腔式 封装 结构 方法
【主权项】:
一种气腔式封装结构,其特征在于,包含:一承载体,具有复数个晶座及复数个引脚;复数个芯片,其中每一芯片接合于一晶座上;复数条焊线,用来电性连结该复数个芯片与该复数个引脚;复数个墙体,设置于该承载体上,以形成复数个腔室,其中每一个腔室容置有至少一晶座及复数个引脚,且每一墙体设有至少一与外界相连通的开放式气槽;以及一上盖,以封装胶材覆盖黏附于该复数个墙体上,以将该复数个腔室密封而形成复数个密闭气腔。
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