[发明专利]超快无透镜相干电子衍射成像方法及装置无效

专利信息
申请号: 201210385701.2 申请日: 2012-10-12
公开(公告)号: CN102903591A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 陈洁;王西杰;陈明伟;朱溢眉;朱鹏飞 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: H01J37/26 分类号: H01J37/26;H01J37/295
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种超快无透镜相干电子衍射成像方法及装置,通过与过程激发源(如飞秒激光脉冲)精确同步的电子脉冲和无透镜相干衍射成像技术相结合,分析被衍射的相干电子脉冲的强度分布,反演计算确定电子散射相位,实现三维瞬态原子尺度的结构和形貌重构,解决传统的电子显微成像方法不具有高时间分辨能力或目前的超快电子成像时间和空间分辨率受限的技术困境。
搜索关键词: 超快无 透镜 相干 电子衍射 成像 方法 装置
【主权项】:
一种超快无透镜相干电子衍射成像方法,其特征在于:该方法结合泵浦‑探测技术和无透镜相干电子衍射成像,以同时实现超高时间分辨和超高空间分辨的瞬态成像;该方法采用与过程激发脉冲精确同步的高亮度相干电子脉冲作为探测源;探测电子经过样品后直接由探测系统收集相干电子衍射成像图样,从而保持电子的散射相位信息;该方法从所述的相干电子衍射成像通过数据处理和三维重构系统利用现有的反演计算方法计算电子的散射相位信息,实现三维瞬态原子尺度的结构和形貌重构。
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