[发明专利]一种调试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210361208.7 申请日: 2012-09-25
公开(公告)号: CN103678078A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 党君礼 申请(专利权)人: 深圳市中兴微电子技术有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 田红娟;龙洪
地址: 518083 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种调试系统及方法,其中调试系统包括:核簇、数据池、数据采集模块、数据传输模块、时钟管理模块和调试处理模块;核簇包括至少一个IP核,IP核包括至少一个集成元件;时钟管理模块用于产生时钟信号驱动所述IP核中的集成元件和数据采集模块工作;数据采集模块用于采集所述IP核中集成元件的数据获得采样数据,并将所述采样数据通过数据传输模块传输给调试处理模块;调试处理模块用于对接收到的采样数据进行处理,并产生相应的调试数据通过数据传输模块传输给所述数据池;数据池对所述调试数据进行处理,并将处理后的数据加载到对应的所述集成元件的输入。本发明能够提高调测的效率和准确性。
搜索关键词: 一种 调试 系统 方法
【主权项】:
一种调试系统,其特征在于,包括:核簇、数据池、数据采集模块、数据传输模块、时钟管理模块和调试处理模块;所述核簇包括至少一个IP核,所述IP核包括至少一个集成元件;所述时钟管理模块用于产生时钟信号驱动所述IP核中的集成元件和所述数据采集模块工作;所述数据采集模块用于采集所述IP核中集成元件的数据获得采样数据,并将所述采样数据通过所述数据传输模块传输给所述调试处理模块;所述调试处理模块用于对接收到的采样数据进行处理,并产生相应的调试数据通过所述数据传输模块传输给所述数据池;所述数据池用于对所述调试数据进行处理,并将处理后的数据加载到对应的所述集成元件的输入。
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