[发明专利]用于微波真空电子器件的阴极发射测试装置和系统在审

专利信息
申请号: 201210355748.4 申请日: 2012-09-21
公开(公告)号: CN103675632A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 刘燕文;朱虹;李玉涛;田宏;孟鸣凤;邯娇;邓峰;刘濮鲲 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01R31/25 分类号: G01R31/25;H01J9/42
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于微波真空电子器件的阴极发射测试装置和系统,该装置将阳极和电极安装在同一个法兰上,阴极和电极相连,法兰固定于管壳的一端,管壳两端用密封圈来封闭。本发明的装置和系统具有简单易行、可以非常容易而方便地控制阴极和阳极之间的距离和平行度等优点。
搜索关键词: 用于 微波 真空 电子器件 阴极 发射 测试 装置 系统
【主权项】:
一种阴极发射测试装置,包括阳极(13)、阴极(14)、电极(19)和管壳(17),其特征在于,还包括一个电极法兰(18),所述阳极(13)和电极(19)均安装在所述电极法兰(18)上,所述电极(19)与阴极(14)连接。
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