[发明专利]用于微波真空电子器件的阴极发射测试装置和系统在审
申请号: | 201210355748.4 | 申请日: | 2012-09-21 |
公开(公告)号: | CN103675632A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 刘燕文;朱虹;李玉涛;田宏;孟鸣凤;邯娇;邓峰;刘濮鲲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01R31/25 | 分类号: | G01R31/25;H01J9/42 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于微波真空电子器件的阴极发射测试装置和系统,该装置将阳极和电极安装在同一个法兰上,阴极和电极相连,法兰固定于管壳的一端,管壳两端用密封圈来封闭。本发明的装置和系统具有简单易行、可以非常容易而方便地控制阴极和阳极之间的距离和平行度等优点。 | ||
搜索关键词: | 用于 微波 真空 电子器件 阴极 发射 测试 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种阴极发射测试装置,包括阳极(13)、阴极(14)、电极(19)和管壳(17),其特征在于,还包括一个电极法兰(18),所述阳极(13)和电极(19)均安装在所述电极法兰(18)上,所述电极(19)与阴极(14)连接。
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