[发明专利]具沟槽型终端结构的超级结MOSFET结构及制备方法无效

专利信息
申请号: 201210301039.8 申请日: 2012-08-22
公开(公告)号: CN103050535A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 刘继全 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 刘昌荣
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了具有沟槽型终端结构的超级结MOSFET器件的两种结构,其终端区呈环形,环形的拐角处为弧形,其他地方为直边;在第一种结构中,终端区沟槽内填充半导体材料和介质层;在第二种结构中,终端区沟槽进一步区分为直边处的沟槽和拐角处的沟槽,并仅对拐角处的沟槽填充半导体材料和介质层。本发明还公开了上述两种结构的超级结器件的制备方法。本发明通过将超级结终端结构设计为环形沟槽,并使终端环形沟槽内部部分填充半导体材料,部分填充介质层,如此即使终端环形沟槽内部有空洞残留,也不会造成击穿电压的下降或漏电流的增加,从而提高了超级结器件的性能。
搜索关键词: 沟槽 终端 结构 超级 mosfet 制备 方法
【主权项】:
具有沟槽型终端结构的超级结MOSFET器件,其特征在于,结构包括:半导体基底,在该半导体基底的背面具有第一电极;第一半导体层,包括有源区和终端区;其中:有源区包括多个第一沟槽、源极区、基极区、钝化绝缘层、绝缘控制电极以及第二电极;所述第一沟槽内填充第二半导体层,该第二半导体层的导电类型与第一半导体层相反;所述源极区位于基极区内,导电类型与第一半导体层相同;所述基极区位于相邻的两个第一沟槽之间,导电类型与第二半导体层相同;所述钝化绝缘层覆盖在所述绝缘控制电极的顶部及周围;所述绝缘控制电极临近源极区和基极区,用于控制源极区和第一电极之间的电流流动;所述第二电极连续覆盖在所述钝化绝缘层之上;终端区包括多个第二沟槽、钝化绝缘层和第二电极;所述第二沟槽的宽度大于第一沟槽,且内部填充第二半导体层和介质层;所述钝化绝缘层连续覆盖在第二沟槽之上;所述第二电极连续覆盖在绝缘钝化层之上。
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