[发明专利]用于检测电路的系统及方法有效
申请号: | 201210261992.4 | 申请日: | 2012-07-26 |
公开(公告)号: | CN102901923A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 郑森秀;R·马丁 | 申请(专利权)人: | 烽腾科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/308 | 分类号: | G01R31/308;G01R31/309 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种用于检测电路的系统,其包括:缺陷探测子系统;以及附加子系统,所述附加子系统可在除检测期间以外的时间内工作,用于对接受检测的电路施加时变电压并用于感测所述电路中各种不同潜在缺陷位置处的电性状态的差异。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 电路 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于检测电路的系统,其特征在于,包括:缺陷探测子系统;以及附加子系统,可在除检测期间以外的时间内工作,用于对接受检测的电路施加时变电压并用于感测所述电路中各种不同潜在缺陷位置处的电性状态的差异。
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