[发明专利]可调激光器边模抑制比及通道稳定性监控系统及监控方法

摘要

本发明公开了一种可调激光器边模抑制比及通道稳定性监控系统及监控方法，涉及到通过取样标准具监测激光器主频及其边模功率来判断激光器光谱质量和通道稳定性，从而进行有效控制的装置和方法。本发明的监控系统主要有由增益介质、耦合光学部分、固定栅格滤波器、可调滤波器和反射光学部分共同构成的可调谐激光器，光束准直透镜，光隔离器，光分束器组件，F-P标准具，光探测器，耦合输出透镜以及控制器等部分构成；通过激光腔外的多滤波器和光电检测结构实施波长锁定，评估光谱质量，适时调整和控制可调滤波器，使激射波长始终稳定在要求的通道，并实现足够好的光谱质量。适合用于激光器工作中的在线光谱质量监测及腔内通道切换滤波器可能的漂移校正。

主权项

一种可调激光器边模抑制比及通道稳定性监控系统，其特征在于，通过一个腔外的分光、滤波和光功率检测装置及激光器驱动控制装置，实现激光光谱边模抑制比适时监测及通道稳定性监控，包括有外腔半导体激光器和腔外光谱质量检测系统两部分，具体构成是：沿光路依次设置的反射光学部件（5）、可调滤波器（4）、固定栅格滤波器（3）、腔内准直透镜（2）、半导体光放大器（1）、腔外准直透镜（6）、光隔离器（7）、第一分光镜（8）和输出耦合透镜（14），以及将第一分光镜（8）分出的激光光束（15）依次分离成强度相等的5束激光光（25、26、27、28、29）的第二分光镜（9）、第三分光镜（10）、第四分光镜（11）、第五分光镜（12）和反射镜（13），分别对应设置在激光光束（25、26、27、28）的传输路径上的第一取样标准具（16）、第二取样标准具（17）、第三取样标准具（18）和第四取样标准具（19），分别用来对应接收第一取样标准具（16）、第二取样标准具（17）、第三取样标准具（18）和第四取样标准具（19）分光输出的第一光电探测器（20）、第二光电探测器（21）、第三光电探测器（22）和第四光电探测器（23），以及接收反射镜（13）输出的激光的第五光电探测器（24），还设置有控制器（30），所述的控制器（30）接收外部控制命令，采集来自第一光电探测器（20）、第二光电探测器（21）、第三光电探测器（22）、第四光电探测器（23）和第五光电探测器（24）的信号并根据采样配置要求进行边模抑制比计算和通道稳定性分析，所述的控制器（30）通过输出接口连接所述的半导体光放大器（1）和可调滤波器（4），用于及时刷新计算和分析结果并根据需要驱动半导体光放大器（1）和可调滤波器（4）。