[发明专利]磁共振系统及其射频线圈性能检测方法无效
| 申请号： | 201210241459.1 | 申请日： | 2012-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN103536288A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 包长虹 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055;G01R33/36;G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 金碎平 |
| 地址： | 201815 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁共振系统及其射频线圈性能检测方法，所述磁共振系统包括至少一接收链路，所述每一接收链路串联有线圈和低噪声放大器，其中所述线圈和低噪声放大器之间串联有双向定向耦合器，所述双向定向耦合器通过切换开关接入测试信号。本发明提供的磁共振系统及其射频线圈性能检测方法，通过设置双向定向耦合器和切换开关测量线圈的散射参数，计算出线圈的谐振频率和品质因素Q值，从而快速方便的判断线圈故障，不需要进行摆放水模等成像操作，简单易行，结果可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 系统 及其 射频 线圈 性能 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种磁共振系统，包括至少一接收链路，所述每一接收链路串联有线圈和低噪声放大器，其特征在于，所述线圈和低噪声放大器之间串联有双向定向耦合器，所述双向定向耦合器通过切换开关接入测试信号。
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