[发明专利]电路分析仪的分析方法

摘要

本发明公开了一种电路分析仪的分析方法，涉及电路测试技术领域，所述方法包括以下步骤：S1：获得待测电路的直流电流和直流电压；S2：获得所述待测电路的第一交流电流和第一交流电压；S3：计算所述待测电路的直流电阻；S4：去除所述直流电阻对所述第一交流电流的影响，以获得去除影响后的第一交流电流；S5：计算与第一频率对应的第一阻抗，根据所述第一阻抗和直流电阻分析判断获得所述待测电路的电路结构、以及电路结构中的各个元件的参数。本发明的分析方法通过对电路进行检测、分析，实现了获得待测电路的电路结构、以及电路结构中的各个元件的参数。

主权项

一种电路分析仪的分析方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1：信号源输出直流电源，通过两个测试端子获得待测电路的直流电流和直流电压；S2：信号源输出第一频率的交流信号，通过所述两个测试端子获得所述待测电路的第一交流电流和第一交流电压；S3：根据所述直流电流、直流电压、第一交流电流、及第一交流电压计算所述待测电路的直流电阻；S4：去除所述直流电阻对所述第一交流电流的影响，以获得去除影响后的第一交流电流；S5：利用所述去除影响后的第一交流电流和所述第一交流电压计算与第一频率对应的第一阻抗，根据所述第一阻抗和直流电阻分析判断获得所述待测电路的电路结构、以及电路结构中的各个元件的参数，所述第一阻抗不计算所述直流电阻在内。