[发明专利]陶瓷天线罩光透射扫描检测控制方法有效
| 申请号： | 201210228841.9 | 申请日： | 2012-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN102749884A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 赵玉刚;李业富;王勇 | 申请（专利权）人： | 山东理工大学 |
| 主分类号： | G05B19/18 | 分类号： | G05B19/18;G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 255086 山东省淄博*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种陶瓷天线罩光透射扫描检测控制方法，采用以下步骤：1）定位激光测距图像采集头起点坐标位置；2）通过对焦测得扫描控制点的起始坐标位置；3）根据跟踪计算和等误差控制点选取的办法，确定天线罩扫描控制点的坐标位置和扫描入射角；4）根据各扫描控制点的扫描入射角，计算光源坐标移动位置；5）按直线点位运动控制方式，对扫描的路径、扫描入射角、光源位置进行扫描控制NC程序的编制；6）根据激光测距图像采集头的视角和扫描行中心截面的外缘曲线进行计算，编制圆周扫描的NC程序；7）控制激光测距图像采集头对天线罩进行图像采集并进行处理和分析，获得陶瓷天线罩的裂纹和质地疏松缺陷参数，用于质量判定。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷 天线罩 透射 扫描 检测 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种陶瓷天线罩光透射扫描检测控制方法，其特征在于采用以下步骤：1）定位光透射扫描的激光测距图像采集头起点坐标位置；2）通过对焦测得扫描控制点的起始坐标位置；3）根据跟踪计算和等误差控制点选取的办法，确定陶瓷天线罩的各个扫描行扫描控制点的坐标位置和对应的激光测距图像采集头的扫描入射角；4）根据各扫描控制点的坐标位置和激光测距图像采集头的扫描入射角，计算陶瓷天线罩轴线上对应扫描控制点的光源坐标位置；5）按直线点位运动控制方式，对扫描控制点、扫描入射角、光源位置进行扫描控制NC程序的编制；6）根据激光测距图像采集头的视角和等误差控制方法对每个扫描行中心截面的外缘曲线进行计算，确定每个扫描行的圆周扫描次数，编制圆周扫描的NC程序；7）控制激光测距图像采集头回到扫描控制点的起始坐标位置，按照编制的NC程序对陶瓷天线罩进行扫描与图像采集，同时对采集的图像进行处理和分析，获得陶瓷天线罩的缺陷参数，根据对缺陷情况的判定，决定是否停止扫描检测程序的执行并报警。
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