[发明专利]一种用于集成电路测试系统中微安级直流电流的校准装置及其方法有效

专利信息
申请号: 201210221098.4 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN103513206A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 李轩冕;周厚平 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七0九研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 武汉金堂专利事务所 42212 代理人: 胡清堂
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种集成电路测试系统微安级直流电流校准装置,包括专用校准线缆及接口、矩阵开关、低噪声低漏电流屏蔽线缆、直流电流表、可调电阻;其优点是:(1)可对微安级直流电流进行满足量值传递/溯源要求的校准;(2)采用了矩阵开关作为主架构,保证了装置的可扩展性和兼容性;(3)对测量设备的要求不高,无需其他体积较大的专用设备;(4)校准方法流程简单,一名校准人员即可完成校准操作。
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 测试 系统 微安 直流 电流 校准 装置 及其 方法
【主权项】:
 一种集成电路测试系统微安级直流电流校准装置,其特征在于,包括专用校准线缆及接口、矩阵开关、低噪声低漏电流屏蔽线缆、直流电流表、可调电阻;其中,直流电流表与可调电阻通过低噪声低漏电流屏蔽线缆连接至矩阵开关,矩阵开关通过专用校准线缆连接有校准接口,标准化的校准接口可以实现与不同型号集成电路测试系统的机械对接,校准时校准接口、直流电流表、可调电阻在矩阵开关的控制下形成串联关系。
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