[发明专利]一种磁共振成像中K空间数据的轨迹校正方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210220184.3 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN103513204A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 张琼;翁得河 申请(专利权)人: 西门子(深圳)磁共振有限公司
主分类号: G01R33/565 分类号: G01R33/565
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种磁共振成像中K空间数据点的轨迹校正方法和装置,所述轨迹校正方法包括:运行采样序列,得到待校正的K空间;选择经验点,利用所述经验点将所述待校正的K空间划分为中心区域和外围区域;分别对所述中心区域和所述外围区域中的数据点的轨迹进行校正;以及再次运行所述采样序列,得到校正后的K空间。采用本发明,可对K空间中的数据点的轨迹分区域进行校正,减少了轨迹校正的计算量和计算的复杂性。
搜索关键词: 一种 磁共振 成像 空间 数据 轨迹 校正 方法 装置
【主权项】:
一种磁共振成像中K空间数据点的轨迹校正方法,该方法包括:运行采样序列,得到待校正的K空间;选择经验点,利用所述经验点将所述待校正的K空间划分为中心区域和外围区域;分别对所述中心区域和所述外围区域中的数据点的轨迹进行校正;以及再次运行所述采样序列,得到校正后的K空间。
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