[发明专利]半导体装置以及将数据写入到半导体装置的方法有效
| 申请号: | 201210211284.X | 申请日: | 2012-06-20 |
| 公开(公告)号: | CN102843234B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
| 发明(设计)人: | 押田大介;古田茂;广川祐之;山崎晓;藤森隆;盐田茂雅 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号: | H04L9/32 | 分类号: | H04L9/32 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 刘倜 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明涉及半导体装置以及将数据写入到半导体装置的方法。现有技术的半导体装置具有不能够有效地确保写入数据时的安全性的问题。本发明的半导体装置具有独有码生成单元,其生成初始独有码,所述初始独有码是对于装置独有的值并且包含以随机比特形式的错误;第一错误校正单元,其校正初始独有码中的错误以生成中间独有码;第二错误校正单元,其校正中间独有码中的错误以生成第一确定独有码;以及解密单元,其利用所述第一确定独有码解密传输数据,以生成保密信息,所述传输数据是由外部装置利用基于所述中间独有码生成的密钥信息加密保密信息而获得的。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 以及 数据 写入 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:独有码生成单元,其生成初始独有码,所述初始独有码是对于装置独有的值并且包含以随机比特形式的错误;第一错误校正单元,其校正初始独有码中的错误以生成中间独有码;第二错误校正单元,其校正中间独有码中的错误以生成第一确定独有码;解密单元,其利用所述第一确定独有码解密传输数据,以生成保密信息,所述传输数据是由外部装置利用基于所述中间独有码生成的密钥信息加密保密信息而获得的;以及加密单元,其利用所述保密信息作为加密密钥进行加密通信;其中所述第一错误校正单元从所述外部装置接收比特掩码数据,并利用所述比特掩码数据生成所述中间独有码,所述比特掩码数据指定构成所述初始独有码的比特中的要被掩码的比特;其中所述第二错误校正单元利用预先保持在所述半导体装置内部的ECC码生成所述第一确定独有码;其中所述中间独有码被发送到所述外部装置;以及其中在所述外部装置中生成的所述密钥信息是通过在所述外部装置中执行的与所述第二错误校正单元的处理过程相同的处理过程而生成的第二确定独有码。
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