[发明专利]透明介质折射率的测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201210204831.1 | 申请日： | 2012-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN102735646A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 张书练;张鹏;谈宜东 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人： | 哈达 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于激光测量技术领域，是关于一种利用激光纵模间隔变化测量透明介质折射率的方法。本方法以激光输出的相邻纵模的频率间隔作为检测对象，在放入被测样品后，由于激光器谐振腔光学长度发生变化，从而引起激光输出的纵模间隔发生变化。通过测量放入被测样品前后的纵模间隔，即可计算得到被测样品的折射率。本发明将激光频率引入折射率的测量，灵敏度非常高，而且测量结果具有溯源的潜力。 | ||
| 搜索关键词： | 透明 介质 折射率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种透明介质折射率的测量装置，包括：半外腔激光器，所述半外腔激光器包括一增益管及一输出腔镜，所述输出腔镜置于所述增益管的下方，且与所述增益管间隔设置共同构成激光谐振腔；一样品座，所述样品座设置于所述增益管与输出腔镜之间，用以承载被测样品，所述样品座包括一通光孔，使半外腔激光器产生的激光穿过所述通光孔；一数据采集及处理系统，包括偏振片、雪崩光电二极管以及数据处理系统，所述偏振片设置于所述样品座的下方，以混合半外腔激光器产生的激光中不同偏振方向的输出频率，所述雪崩光电二极管设置于所述偏振片的下方，以探测拍频并将拍频输出至数据处理系统。
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