[发明专利]一种相位调制器半波电压测量系统及测量方法

摘要

该发明涉及一种相位调制器半波电压测量系统及测量方法，测量系统包括激光发生器及偏振控制器，微波信号发生器，光干涉仪，功率计和处理器；其方法包括将待测相位调制器接入检测系统，系统工作参数的确定及工作状态的调整，不同幅度微波信号调制下光功率值的测量与数据综合处理，不同频率下半波电压的测量。该发明利用微波信号发生器产生的调制信号分辨率高的特点，将同一检测频率下测得的各参数进行综合处理、得该频率下的半波电压值，循环处理即得到各检测频率下的半波电压值；从而具有测量频率的分辨率高，相位调制器测量的频率点及所得半波电压的测量值多、精度高，可确保高速相位调制器使用性能的发挥，测量系统和测量成本低等特点。

主权项

一种相位调制器半波电压测量系统，包括激光发生器和偏振控制器，微波信号发生器，以及待测相位调制器输出信号处理装置，其特征在于待测相位调制器输出信号处理装置包括光干涉仪，功率计和处理器；微波信号发生器通过数据线与处理器的GPIB接口连接，光干涉仪的输出端口与功率计的输入端口通过光纤连接，功率计的输出端口则通过数据线与处理器的GPIB接口连接；使用时待测相位调制器的光信号输入端口与偏振控制器通过光纤连接、其射频接口通过电缆与微波信号发生器的输出端口连接，待测相位调制器的激光信号输出端口通过光纤与光干涉仪的输入端口连接。