[发明专利]CMOS图像传感器及其形成方法在审
申请号: | 201210164748.6 | 申请日: | 2012-05-23 |
公开(公告)号: | CN102709300A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 饶金华;张克云;孙玉红;吴小利 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种CMOS图像传感器及其形成方法,形成方法包括形成感光二极管的N型掺杂区,每一个感光二极管的N型掺杂区的形成方法包括:提供衬底;在衬底上形成掩膜层;图形化掩膜层,形成栅状结构,使离子注入区域和阻挡区域交替分布;以图形化的掩膜层为掩膜,对衬底进行垂直于衬底上表面的第一N型离子注入形成第一N型掺杂区;以图形化的掩膜层为掩膜,对衬底进行第二N型离子注入形成第二N型掺杂区,第二N型离子注入的注入方向与所述衬底法线呈预定角度;进行退火工艺,使第一N型掺杂区和第二N型掺杂区中的N型离子扩散形成感光二极管的N型掺杂区,N型掺杂区的离子掺杂浓度呈梯度分布。本方案可以提高电子传输效率,节约工艺成本。 | ||
搜索关键词: | cmos 图像传感器 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种形成CMOS图像传感器的方法,包括形成感光二极管的N型掺杂区,其特征在于,每一个感光二极管的N型掺杂区的形成方法包括:提供衬底;在所述衬底上形成掩膜层;图形化所述掩膜层,在所述掩膜层中形成在一条直线上的多个开口,多个开口以及开口之间的掩膜层构成栅状结构,使离子注入区域和阻挡区域交替分布,多个开口以及多个开口之间的掩膜层定义出感光二极管的N型掺杂区的位置;以所述图形化的掩膜层为掩膜,对所述衬底进行第一N型离子注入形成第一N型掺杂区,所述第一N型离子注入的注入方向垂直于所述衬底的上表面;以所述图形化的掩膜层为掩膜,对所述衬底进行第二N型离子注入形成第二N型掺杂区,所述第二N型离子注入的注入方向与所述衬底法线呈预定角度;进行退火工艺,使第一N型掺杂区和第二N型掺杂区中的N型离子扩散形成感光二极管的N型掺杂区,沿感光二极管至浮置扩散区的方向上,所述感光二极管的N型掺杂区的离子掺杂浓度呈梯度增大。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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