[发明专利]CMOS图像传感器及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201210164748.6 申请日: 2012-05-23
公开(公告)号: CN102709300A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 饶金华;张克云;孙玉红;吴小利 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种CMOS图像传感器及其形成方法,形成方法包括形成感光二极管的N型掺杂区,每一个感光二极管的N型掺杂区的形成方法包括:提供衬底;在衬底上形成掩膜层;图形化掩膜层,形成栅状结构,使离子注入区域和阻挡区域交替分布;以图形化的掩膜层为掩膜,对衬底进行垂直于衬底上表面的第一N型离子注入形成第一N型掺杂区;以图形化的掩膜层为掩膜,对衬底进行第二N型离子注入形成第二N型掺杂区,第二N型离子注入的注入方向与所述衬底法线呈预定角度;进行退火工艺,使第一N型掺杂区和第二N型掺杂区中的N型离子扩散形成感光二极管的N型掺杂区,N型掺杂区的离子掺杂浓度呈梯度分布。本方案可以提高电子传输效率,节约工艺成本。
搜索关键词: cmos 图像传感器 及其 形成 方法
【主权项】:
一种形成CMOS图像传感器的方法,包括形成感光二极管的N型掺杂区,其特征在于,每一个感光二极管的N型掺杂区的形成方法包括:提供衬底;在所述衬底上形成掩膜层;图形化所述掩膜层,在所述掩膜层中形成在一条直线上的多个开口,多个开口以及开口之间的掩膜层构成栅状结构,使离子注入区域和阻挡区域交替分布,多个开口以及多个开口之间的掩膜层定义出感光二极管的N型掺杂区的位置;以所述图形化的掩膜层为掩膜,对所述衬底进行第一N型离子注入形成第一N型掺杂区,所述第一N型离子注入的注入方向垂直于所述衬底的上表面;以所述图形化的掩膜层为掩膜,对所述衬底进行第二N型离子注入形成第二N型掺杂区,所述第二N型离子注入的注入方向与所述衬底法线呈预定角度;进行退火工艺,使第一N型掺杂区和第二N型掺杂区中的N型离子扩散形成感光二极管的N型掺杂区,沿感光二极管至浮置扩散区的方向上,所述感光二极管的N型掺杂区的离子掺杂浓度呈梯度增大。
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