[发明专利]一种XRD检测珍珠粉质量的方法及其应用有效
| 申请号： | 201210145993.2 | 申请日： | 2012-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN102798640A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 阮华君;廖杰 | 申请（专利权）人： | 浙江长生鸟珍珠生物科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N5/00 |
| 代理公司： | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人： | 康正德;范晓斌 |
| 地址： | 311804 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及珍珠粉的质量检测方法及其应用，所述质量检测方法包括下述方法的任一种或其组合，1）采用XRD衍射法分析待测样品，珍珠粉中的方解石相含量≤4.0wt.％，文石相含量≥96.0wt.％；和/或，2）采用DSC/TGA分析待测样品，珍珠粉中的有机质的含量为3.5-5.0wt.%；和/或，3）将待测样品加热至200℃-450℃的任一温度后,保温5-10分钟，待其降至室温后，取出待测样品，采用XRD衍射分析法检测其中的方解石相含量，珍珠粉中的方解石含量≤15.0wt.％。本发明的检测方法具有专一性强、稳定性和重现性好、快速灵敏、简便、准确、有效、无干扰等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 xrd 检测 珍珠粉 质量 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
一种珍珠粉的质量检测方法，其特征在于，采用XRD衍射法分析待测样品，所述的待测样品选自珍珠粉、珍珠母粉、珍珠层粉、混合粉、其他粉体的任一种，其中，珍珠粉中方解石相的含量≤4.0wt.％，文石相的含量≥96.0wt.％。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江长生鸟珍珠生物科技有限公司，未经浙江长生鸟珍珠生物科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210145993.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
