[发明专利]半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统及其检测方法有效
| 申请号： | 201210131927.X | 申请日： | 2012-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN103383402A | 公开（公告）日： | 2013-11-06 |
| 发明（设计）人： | 余晨辉;罗向东;刘培生;徐炜炜 | 申请（专利权）人： | 南通大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人： | 徐琳淞 |
| 地址： | 226019 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统及其检测方法，检测系统包括单色圆偏振光源、半导体二维电子气样品、压电陶瓷片、高压交流信号源、锁相放大器和电阻；所述单色圆偏振光源斜照射半导体二维电子气样品；所述压电陶瓷片对半导体二维电子气样品施加周期性变化的应力；所述高压交流信号源向压电陶瓷片提供驱动电压；所述电阻与半导体二维电子气样品串联成一个回路；所述锁相放大器检测流经电阻的电流。本发明的检测灵敏度高，增强了CPGE技术的可靠性与优越性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 二维 电子 偏振 自旋 电流 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统，其特征在于：包括单色圆偏振光源(1)、半导体二维电子气样品(2)、压电陶瓷片(3)、高压交流信号源(4)、锁相放大器(5)和电阻(6)；所述单色圆偏振光源(1)斜照射半导体二维电子气样品(2)；所述压电陶瓷片(3)对半导体二维电子气样品(2)施加周期性变化的应力；所述高压交流信号源(4)向压电陶瓷片(3)提供驱动电压；所述电阻(6)与半导体二维电子气样品(2)串联成一个回路；所述锁相放大器(5)检测流经电阻(6)的电流。
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