[发明专利]电子设备断电持续时间的检测方法

摘要

本发明涉及一种电子设备断电持续时间的检测方法，建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，上电后通过安装在电子设备上的各温度传感器采集各温度初始值并经模数转换模块传至微处理器，根据本次上电时间并通过存入的曲线模型计算出电子设备本次温度传感器读数线性综合值并存储，作为计算此后断电持续时间的依据；当电子设备断电再次上电后，各将温度传感器重新采集各温度初始值，微处理器读取前一次存入的温度传感器读数线性综合值计算得到本次断电持续时间并保存，并根据本次上电时间计算出本次的温度传感器读数线性综合值再作为计算此后断电持续时间的依据。本发明不受放电时间限制，计时准确，不会影响电子设备本身性能。

主权项

一种电子设备断电持续时间的检测方法，其特征在于：(1)、建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，将其写入微处理器内固化，所述的温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型为： ST = Σ i = 1 n k i · [ a 0 i + a 1 i ( 1 - 1 / e ( t / C i ) ) ] 其中，ST为温度传感器读数的线性综合值；n为温度传感器数量，n≥2，ki为温度值综合系数，ki控制在＜0～‑1，＞0～1；a0i为温度传感器采集的温度初始值；a1i为温度传感器输出比例系数，a1i控制在＜0～‑200，＞0～200；Ci为时间常数，C在1～10000；t为上电时间或断电持续时间(s)，其中上电时间用tp表示，断电持续时间用to表示；(2)、电子设备安装有用于检测电子设备温度的至少一个温度传感器和用于检测印刷电路板温度的至少一个温度传感器；(3)、在电子设备上电后，各温度传感器将采集的各温度初始值a0i经模数转换模块传至微处理器，微处理器对读取的各温度初始值a0i进行滤除干扰信号处理，同时微处理器记录本次上电时间tp，微处理器通过存入的曲线模型计算出电子设备的本次温度传感器读数线性综合值ST，将温度传感器读数线性综合值ST存储在微处理器内，作为计算此后断电持续时间to的依据；(4)、当电子设备断电后再次上电时，各将温度传感器重新采集的各温度初始值a0i经模数转换模块传至微处理器，微处理器对读取的各温度初始值a0i并进行滤除干扰信号处理，微处理器读取前一次存入的温度传感器读数线性综合值ST，并通过温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型，计算得到本次断电持续时间to并保存，同时记录本次的上电时间tp，计算出电子设备本次的温度传感器读数线性综合值ST并存储在微处理器内，再作为计算此后断电持续时间to的依据，当断电持续时间to大于临界值时，断电持续时间to为临界值。