[发明专利]一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法无效

专利信息
申请号: 201210125039.7 申请日: 2012-04-25
公开(公告)号: CN102682450A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 赵慧洁;江澄;贾国瑞 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法,有七大步骤:一、读入高光谱数据,并设定掩模尺寸;二、计算图像信噪比,并自动选择参考波段图像;三、掩模的中心依次遍历参考波段图像中所有像元位置,计算该像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度;四、根据步骤三所得每个像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度,选择局部边缘密度最大的掩模图像作为参考模板;五、根据步骤四所得参考模板,计算目标波段图像与参考模板同位置图像的局部边缘密度;六、根据自适应阈值和步骤五所得图像的局部边缘密度,判断此图像是否为目标模板;七、利用模板之间的互相关匹配进行亚像元定位,实现Keystone效应的检测。它在遥感技术应用领域里具有较好的实用价值和广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 光谱 图像 keystone 效应 自动检测 方法
【主权项】:
一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:步骤一:读入高光谱数据,并设定掩模尺寸;步骤二:计算图像信噪比,并自动选择参考波段图像;步骤三:掩模的中心依次遍历参考波段图像中所有像元位置,计算该像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度;遍历时,保持中心点的横坐标与待检测像元位置一致;步骤四:根据步骤三所得每个像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度,选择局部边缘密度最大的掩模图像作为参考模板;步骤五:根据步骤四所得参考模板,计算目标波段图像上与参考模板同位置图像的局部边缘密度;步骤六:根据自适应阈值和步骤五所得图像的局部边缘密度,判断此图像是否为目标模板;步骤七:利用模板之间的互相关匹配进行亚像元定位,实现Keystone效应的检测。
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