[发明专利]一种无间断生长高质量InGaN/GaN多量子阱的方法有效
| 申请号: | 201210124792.4 | 申请日: | 2012-04-25 |
| 公开(公告)号: | CN102637787A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
| 发明(设计)人: | 李盼盼;李鸿渐;张逸韵;李志聪;梁萌;李璟;王国宏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/20 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种无间断生长高质量InGaN/GaN多量子阱的方法,包括:在蓝宝石图形衬底上外延生长uGaN,在uGaN上生长nGaN,然后在nGaN上生长MQW应力释放层;在MQW应力释放层上外延生长InGaN/GaN多量子阱;在InGaN/GaN多量子阱上重复生长多个InGaN/GaN多量子阱;在该多个InGaN/GaN多量子阱上生长GaN基LED所需的pAlGaN和pGaN。本发明选用金属有机物化学气相沉积法,利用在切换量子阱和垒生长条件过程中保持GaN生长,即进行量子阱无间断生长,缩短了多量子阱生长所需的时间,大大提高了生产效率,同时获取高质量InGaN/GaN多量子阱的LED外延片。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 间断 生长 质量 ingan gan 多量 方法 | ||
【主权项】:
一种无间断生长高质量InGaN/GaN多量子阱的方法,其特征在于,该方法包括:在蓝宝石图形衬底上外延生长uGaN(1),接着在uGaN(1)上生长nGaN(2),然后在nGaN(2)上生长MQW应力释放层(3);在MQW应力释放层(3)上外延生长InGaN/GaN多量子阱;在InGaN/GaN多量子阱上重复生长多个InGaN/GaN多量子阱;在该多个InGaN/GaN多量子阱上生长GaN基LED所需的pAlGaN(12)和pGaN(13)。
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