[发明专利]一种无间断生长高质量InGaN/GaN多量子阱的方法有效

专利信息
申请号: 201210124792.4 申请日: 2012-04-25
公开(公告)号: CN102637787A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 李盼盼;李鸿渐;张逸韵;李志聪;梁萌;李璟;王国宏 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L21/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种无间断生长高质量InGaN/GaN多量子阱的方法,包括:在蓝宝石图形衬底上外延生长uGaN,在uGaN上生长nGaN,然后在nGaN上生长MQW应力释放层;在MQW应力释放层上外延生长InGaN/GaN多量子阱;在InGaN/GaN多量子阱上重复生长多个InGaN/GaN多量子阱;在该多个InGaN/GaN多量子阱上生长GaN基LED所需的pAlGaN和pGaN。本发明选用金属有机物化学气相沉积法,利用在切换量子阱和垒生长条件过程中保持GaN生长,即进行量子阱无间断生长,缩短了多量子阱生长所需的时间,大大提高了生产效率,同时获取高质量InGaN/GaN多量子阱的LED外延片。
搜索关键词: 一种 间断 生长 质量 ingan gan 多量 方法
【主权项】:
一种无间断生长高质量InGaN/GaN多量子阱的方法,其特征在于,该方法包括:在蓝宝石图形衬底上外延生长uGaN(1),接着在uGaN(1)上生长nGaN(2),然后在nGaN(2)上生长MQW应力释放层(3);在MQW应力释放层(3)上外延生长InGaN/GaN多量子阱;在InGaN/GaN多量子阱上重复生长多个InGaN/GaN多量子阱;在该多个InGaN/GaN多量子阱上生长GaN基LED所需的pAlGaN(12)和pGaN(13)。
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