[发明专利]无需深度扫描的时域光学相干层析成像方法与系统无效
| 申请号： | 201210124388.7 | 申请日： | 2012-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN102628799A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 黄炳杰;王向朝;步鹏;南楠;郭昕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种无需深度扫描的时域光学相干层析成像方法与系统，该方法是在时域光学相干层析成像方法的基础上，用柱面凸镜代替干涉参考臂的聚焦透镜形成线状参考光，并通过倾斜参考臂的参考平面反射镜在参考光线状长度方向上引入连续的光程差，用一维光电探测器阵列代替点光电探测器，获得待测样品同一个探测点连续不同深度处的干涉信号，通过去直流背景之后，对该干涉信号沿参考光线状长度方向作希尔伯特变换分析，最后得到待测样品的层析图。本发明只需一次曝光即可实现一维光学相干层析成像，具有结构简单、成像速度快、无寄生像、对运动模糊不敏感的特点。在不牺牲系统信噪比的情况下，实现无需深度扫描的时域光学相干层析成像。 | ||
| 搜索关键词： | 无需 深度 扫描 时域 光学 相干 层析 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种无需深度扫描的时域光学相干层析成像的方法，其特征在于该方法是在时域光学相干层析成像方法的基础上，用柱面凸镜代替干涉参考臂的聚焦透镜形成线状参考光，并通过倾斜参考臂的参考平面反射镜在参考光线状长度方向上引入连续的光程差，用一维光电探测器阵列代替点光电探测器，获得待测样品同一个探测点连续不同深度处的干涉信号，通过去直流背景之后，对该干涉信号沿参考光线状长度方向作希尔伯特变换即可得到待测样品的层析图。
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