[发明专利]C形臂X光锥测定方法有效
| 申请号： | 201210118483.6 | 申请日： | 2012-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN103376074A | 公开（公告）日： | 2013-10-30 |
| 发明（设计）人： | 闫士举;胡方遒 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种C形臂X光锥测定方法，包括以下步骤：步骤一、通过C形臂X光锥测定装置获取X射线图像；步骤二、校正获取的X射线图像；步骤三、测算出光源点与成像平面的垂直距离；步骤四、测算出光源点在水平面上的偏移量；采用本发明的C形臂X光锥测定方法对C形臂X光锥进行测定，可以方便快捷地对X光锥与XRII成像平面之间的相对空间位置关系进行测定。 | ||
| 搜索关键词： | 形臂 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种C形臂X光锥测定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、通过C形臂X光锥测定装置获取X射线图像；步骤二、校正获取的X射线图像；步骤三、测算出光源点与成像平面的垂直距离；步骤四、测算出光源点在水平面上的偏移量；所述的C形臂X光锥测定装置包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板中心设有一个第一钢球，在下层测定板边缘设有按正交方式设置的四个第二钢球，在上层测定板上设有按正交方式排列的多个第三钢球。
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