[发明专利]随钻电磁波电阻率仪器的纵向分辨率指标的确定方法有效

专利信息
申请号: 201210113369.4 申请日: 2012-04-17
公开(公告)号: CN102628360A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 段宝良;韩宏克;魏少华;宋殿光;李郴;郭巍;方辉 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十二研究所
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/00;G01V3/30
代理公司: 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 代理人: 陈大通
地址: 453003 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种随钻电磁波电阻率仪器的纵向分辨率指标的确定方法;该方法含有以下步骤:步骤1、建立一个纵向三层的地层模型,三层介质从上到下依次为第一围岩层、目的层、第二围岩层,第一围岩层和第二围岩层的特性相同,将随钻电磁波电阻率仪器放置于于地层模型的井眼中,并且使随钻电磁波电阻率仪器的轴线垂直设置;步骤2、将目的层的厚度从小到大逐渐增大,同时,采用纵向成层格林函数方法计算不同目的层厚度时随钻电磁波电阻率仪器测量到的目的层中点处的视电阻率响应值;步骤3、设视电导率值、目的层电导率值、围岩层电导率值,当时,此时的目的层的厚度即为纵向分辨率值;本发明可有效确定出随钻电磁波电阻率仪器的纵向分辨率指标。
搜索关键词: 电磁波 电阻率 仪器 纵向 分辨率 指标 确定 方法
【主权项】:
1.一种随钻电磁波电阻率仪器的纵向分辨率指标的确定方法,其特征是:含有以下步骤:步骤1、建立一个纵向三层的地层模型,该地层模型的三层介质从上到下依次为第一围岩层、目的层、第二围岩层,按实际的测井环境给定这三层介质的介质参数,第一围岩层和第二围岩层的特性相同,介质参数含有目的层的电阻率值、第一围岩层和第二围岩层的电阻率值;将随钻电磁波电阻率仪器放置于于地层模型的井眼中,并且使随钻电磁波电阻率仪器的轴线垂直设置;步骤2、将目的层的厚度从小到大逐渐增大,同时,采用纵向成层格林函数方法计算不同目的层厚度时随钻电磁波电阻率仪器的测量天线测量到的目的层中点处的视电阻率响应值;步骤3、将测量天线测量到的视电阻率响应值的倒数作为视电导率值σa,将目的层的电阻率值的倒数作为目的层电导率值σt,将第一围岩层和第二围岩层的电阻率值的倒数作为围岩层电导率值σs;当时,此时的目的层的厚度即为该随钻电磁波电阻率仪器的测量天线在所述地层模型下的纵向分辨率值。
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